“准备……上电！”顾维钧的声音带着一丝不易察觉的颤抖，这位经验丰富的老将也无法完全保持平静。

工程师按下了电源启动按钮。

嗡—— 实验室里只剩下空调系统和仪器风扇的低鸣声。所有人都屏住了呼吸，眼睛死死地盯着仪器的读数和屏幕。

一秒，两秒，五秒……

没有异常的电流飙升，没有刺鼻的焦糊味，没有令人心悸的火花。电源监控仪表上显示的静态电流读数，稳定地停留在一个极低的、只有几百微安的数值上！

“静态电流正常！远低于设计最大值！”负责电源监控的工程师惊喜地喊道。

“呼……”人群中响起一片如释重负的吐气声。至少，这颗芯片没有在上电瞬间就“烧掉”，这已经是成功的第一步！

“尝试通过JTAG读取Device ID！”陈家俊立刻下达下一步指令。

调试工程师在电脑上敲下命令。片刻之后，JTAG调试软件的控制台窗口中，清晰地返回了一串预设好的、独一无二的16进制ID编码！

“Device ID读取成功！JTAG通信完全正常！”

“好！”陈家俊握紧了拳头！这意味着芯片内部最基本的逻辑电路、时钟和复位系统、以及调试接口，都按照预期工作了！

“加载Level 0诊断程序，测试ARM内核和内存接口！”指令继续下达。

一个极其精简的、只包含最基本硬件初始化和内存测试功能的诊断程序，开始通过JTAG接口被加载到芯片内部可能存在的少量SRAM或者直接加载到外部连接的SDRAM中。

片刻之后，调试控制台上开始滚动输出信息： “ARM946E-S Core Booting…” “Cache Initialization OK…” “SDRAM Controller Initialized. Size: 32MB. Speed: 100MHz.” “Running Memory Pattern Test (Walking Ones)…” “Memory Test Passed!” “Running Memory Bandwidth Test…” “Read Bandwidth: XXX MB/s. Write Bandwidth: XXX MB/s.”